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膜厚測(cè)試儀
設(shè)備名稱:膜厚測(cè)試儀
設(shè)備型號(hào):FI-CH
適用標(biāo)準(zhǔn):GB/T?16921-05  ISO 3497
適用對(duì)象:電鍍鍍層厚度分析、測(cè)量
測(cè)試量級(jí):精度0.001um